当下，高速数字系统发展迅猛，时钟频率常达数百兆赫兹，快斜率瞬变、高工作频率以及高电路密集度，使得系统行为与低速设计大相径庭，信号完整性问题凸显。信号完整性一旦被破坏，信号会失真、定时出错，还会产生错误的数据、地址和控制信号，导致系统误操作甚至崩溃。正因如此，信号完整性测量越来越受高速数字电路设计人员重视。

判断电路信号完整性好坏，关键看信号能否按要求的时序、持续时间和电压幅度到达集成电路（IC）。能精准抵达，信号完整性就好；反之，就存在问题。在高速领域，信号完整性（SI）解决的是信号传输的质量问题，数字信号传输不能只考虑逻辑实现，物理实现中数字器件开关行为的模拟效果往往成为设计成败的关键。信号完整性测试在产品研发调试中意义重大，能帮助设计人员精准定位问题，避免盲目排查，让研发工作有的放矢，有效提高效率，为产品成功奠定基础。