光谱分析法如OES和ICP-OES具有多元素同时检测、分析速度快、灵敏度高、线性范围宽等优势。

OES可在数十秒内完成几十种元素的定量分析，无需复杂前处理，适合炉前快速检验。ICP-OES的检出限可达0.001ppm，动态范围跨越五个数量级，能够同时测定主量、微量和痕量元素。

光谱法基于原子发射特征波长，干扰较少，通过标准曲线校正可获得准确结果。现代光谱仪配备CCD或CMOS检测器，全谱采集避免了通道限制。缺点是需要标准样品进行校准，对样品均匀性有一定要求，且设备初始投资较高。总体而言，光谱法是金属材料质量控制和生产研发中最主流的手段之一。