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CMC26Y03

多刻线样板表面粗糙度测量

表面粗糙度测量

可能涉及的测试/测量/校准方法为 GB/T 10610。需注意，可能涉及的测试/测量方法仅供参比实验室参考，请实验室使用最新版本。除指导书有限定方法的项目以外，实验室可自主选择适合的方法开展测试。

2026 年 8 月

1000元

运作依据

分包说明

表面粗糙度主要通过接触式(如触针法)和非接触式(如光切法、干涉法)方法实现，核心是量化表面微小峰谷的几何参数(如Ra、Rz)，适用于不同精度和材料场景。

一、接触式测量：直接扫描表面，适合金属、陶瓷等硬质材料，精度高但可能划伤软表面。

触针法：用金刚石探针扫描表面，将位移转为电信号计算参数(如Ra),精度达0.025–6.3微米，效率高，是工业检测基准。

比较法：用粗糙度样块目测或放大镜对比被测表面，快速判断粗糙度等级(如Ra 1.6–400微米)，但结果主观。

印模法：用石蜡复制深孔、凹槽等复杂表面的轮廓，再测量印模，适用于仪器无法直接接触的区域。

二、非接触式测量：光学无损伤检测，适合精细或易损表面(如光学元件)，无划痕风险。

光切法：用狭缝光带投影表面轮廓，通过显微镜测量峰谷高度。范围0.8–100微米，需人工操作，效率较低。

干涉法：利用光波干涉生成条纹，放大500倍后测量。精度最高(0.025–0.8微米)，用于超光滑表面。